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VSM8A二重卷邊檢測投影儀檢測模式詳解

日期:2023/10/11 10:15:07
測(ce)量模式設置:測(ce)量時(shi)選(xuan)擇不同的測(ce)量模式中(zhong)的一(yi)種

 

兩點模式

測量兩(liang)點(dian)的(de)水(shui)平(ping)或者垂(chui)(chui)直距(ju)(ju)離(li)(li)。當兩(liang)點(dian)的(de)水(shui)平(ping)距(ju)(ju)離(li)(li)大于垂(chui)(chui)直距(ju)(ju)離(li)(li)時,系統判斷為測量水(shui)平(ping)距(ju)(ju)離(li)(li),否則(ze)兩(liang)點(dian)模式(shi)測量的(de)是垂(chui)(chui)直距(ju)(ju)離(li)(li)。

 

五點模式

通過十字交叉線可觀測到5個點,用回車(che)鍵進行確認,可獲得卷(juan)邊長度(du)、罐(guan)身(shen)鉤長度(du)、罐(guan)蓋(gai)鉤長度(du)及搭(da)接長度(du)。

         

 

 

 

 

 

 

五點(dian)模式                    七(qi)點模式(shi)               ; 八點模(mo)式 

七點模式

通過十字交叉線可觀測到7個點,用回車鍵進行確認,可(ke)獲得卷邊長(chang)(chang)度(du)、搭接長(chang)(chang)度(du)、搭接百分率、罐(guan)身鉤長(chang)(chang)度(du)、罐(guan)蓋鉤長(chang)(chang)度(du)及罐(guan)身鉤搭接百分率。

 

八點(dian)模式

通過十(shi)字交(jiao)叉(cha)線可觀測到8個點,用回車鍵進行確認,可獲得卷邊長(chang)度(du)、搭接長(chang)度(du)、搭接百(bai)分(fen)率、罐(guan)(guan)身鉤(gou)長(chang)度(du)、罐(guan)(guan)蓋鉤(gou)長(chang)度(du)、罐(guan)(guan)身鉤(gou)搭接百(bai)分(fen)率及卷邊間(jian)隙。

 

卷邊厚度(du)測量

在菜(cai)單模式"5+2", "7+2", and "8+2"下,除(chu)了(le)上(shang)(shang)述提到的測(ce)(ce)量(liang)參數外,還可以進行(xing)卷邊厚度(du)的測(ce)(ce)量(liang)。所(suo)有測(ce)(ce)量(liang)過程(cheng)中,您所(suo)選擇的測(ce)(ce)量(liang)模式(shi)總會顯(xian)示在(zai)屏幕上(shang)(shang)方。

 

卷邊(bian)厚度測量(liang)中的X-jumpX-offset

對于(yu)卷(juan)邊(bian)厚(hou)度(du)測(ce)(ce)量必須先確(que)定測(ce)(ce)量點的頂(ding)點,在(zai)這點上(shang)進行(xing)卷(juan)邊(bian)厚(hou)度(du)測(ce)(ce)量,壓(ya)住鼠標(biao)左鍵可獲取(qu)新的X-jumpX-offset設定值。輔助線與卷(juan)邊上(shang)沿的(de)交(jiao)叉(cha)點(dian)是卷(juan)邊厚度(du)測定的(de)第(di)一個點(dian),您(nin)所采用的(de)x-jump值是一(yi)個經驗值,一(yi)般建議在1,5 - 2,0 mm 之(zhi)間。輔助斜(xie)線與卷(juan)邊(bian)下沿的(de)交(jiao)叉點是卷(juan)邊(bian)厚度測定的(de)第二個點,卷(juan)邊(bian)厚度軟(ruan)件在選擇(ze)上述兩點后會自動呈現,您(nin)所采用的(de)x- offset值是一個經驗值,一般(ban)建議(yi)在4°- 8° 之間。兩(liang)值(zhi)的修改可通過(guo)按組(zu)合鍵(jian)Alt+Ctr+鼠標左鍵進入(ru)修改界面(mian)。

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